可靠地实现晶片检测
太阳能晶片生产的质量保证
太阳能电池的制造过程涉及多个层面，包括前后电极、硅层和带有防反射涂层的结构表面。裂缝、划痕、夹杂物或其他缺陷会对太阳能电池的功能和效率产生严重的负面影响，因此必须及早发现。因此，检测是生产光伏电池的关键步骤。
利用我们的 SWIR 图像传感器 (S短W幅InfraRed）为波长高达 1700nm 的可见光以外频率范围的应用提供了可能性。硅在 SWIR 光下变得透明，因此特别容易检测晶片中的结构。
"标准不完全符合您的要求？除了广泛的标准产品组合，我们还提供定制解决方案。请联系我们，讨论您的要求。
(本杰明-伦茨（Benjamin Renz），半导体与电子产品全球市场部门经理
特殊功能
- 使用最先进的 CMOS 图像传感器
- 适用于最困难的照明条件带背面照明的卷帘快门或全局快门
- 通过相机中的 FPGA 进行数据预处理，降低了所需的计算能力
- 可根据具体应用进行定制
晶圆检测产品
让我们为您的系统提供最佳性能
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